Virtuoso Variation Option
为您的设计提供高级统计探索
主要优点
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选择您的任务（如良率验证）或统计角点创建，并指定您的目标西格玛需求，轻松进行适当分析
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提供高良率估算能力，用于在4、5或6 西格玛级别检查设计的外部边界
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提供先进的统计样本重新排序功能，极大地提高了统计仿真的性能，对16纳米及以下的FinFET技术进行了额外加速
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提供失配贡献分析和统计灵敏度分析，以在统计仿真中精确定位影响最大的器件
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简单、一步创建3-sigma统计抽样得出的最差情况角点
Cadence® Virtuoso® Variation Option扩展了Virtuoso ADE Assembler和Virtuoso ADE Verify的统计变化能力，允许对任何设计执行更复杂的统计分析。也有用于先进节点设计的专用技术。
统计样本重新排序
直接解决与3 西格玛设计相关的重大挑战，尤其是在先进工艺节点或低Vdd环境下的问题。Virtuoso Variation Option提供了一种统计方法，通过重新排序样本来首先仿真最差的样本，从而验证电路成品率或高效地创建角点。该方法与主要代工厂共同开发，为16纳米及以下的FinFET技术提供额外的加速。
4、5或6 西格玛分析的高良率估算
在具有极高容量的器件（如存储器件）上，或者当不允许器件失效时(如汽车安全或医疗器件)，必须测试电路极限时，通常需要高成品率估算。Virtuoso Variation Option供两种模拟方法来满足您的需求和条件:
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标度西格玛抽样(SSS)：这种优选的统计方法产生的样本中，标准偏差已被放大，就非线性行为而言比WCD更精确，并且在有大量统计参数和规范时更有效。
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最坏情况距离(WCD)：该统计方法定义了工艺/失配参数空间中从标称点到规范边界的最短距离。WCD通常要求每个规格不超过100次模拟，因此适用于需要监控/更改少量规格/参数的设计。
自动化良率提高流程
Virtuoso Variation Option有“提高良率”命令，该命令将使设计返回到满足所有设计要求并具有最高成品率的状态。如果没有达到这一点，它将对当前要求进行迭代分析，并确定该设计最高可能成品率的条件。
失配贡献分析
Virtuoso Variation Option具有失配贡献分析功能，这是蒙特卡罗后处理功能，有助于识别失配变化的重要贡献者。然后，您可以修改原理图中标识的器件，使设计对失配变化不过于敏感。
ISO 26262汽车TCL1认证
业界首个模拟/混合信号设计实施和验证流程，旨在实现“符合目的-一级软件工具信赖水平 (TCL1)”认证，使能够满足严格的ISO 26262汽车安全要求。该流程使用Virtuoso ADE Product Suite和Spectre Circuit Simulation Platform，从创建和仿真到物理实现和验证，实现晶体管级设计。Virtuoso ADE Verifier为设计工程师提供了一种集成的方法，可以根据单个电路规格验证安全规格，以提升设计信心。有关安全手册、工具信度分析(TCA)文件和TÜV SÜD公司合规报告的信息，请通过Cadence登录在线支持下载功能安全文件包。
